V. Riccardo;
G. Arnoux;
P. Cahyna;
T.C. Hender;
A. Huber;
S. Jachmich;
V. Kiptily;
R. Koslowski;
L. Krlin;
M. Lehnen;
A. Loarte;
E. Nardon;
R. Paprok;
D. Tskhakaya;
JET EFDA contributors;
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